Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении Техносфера 978 5 94836 385 1

Цена: 1569 руб.

Категория: Научно-популярная литература, Физические науки
Производитель: Техносфера
Артикул: 978-5-94836-385-1
Модель:

Книга содержит материалы, полезные как для общего понимания принципа ДОЭ-анализа, истории его создания и развития, так и практическую информацию по исследованию процессов в материалах при сильных пластических деформациях (равноканальное угловое прессование (РКУП), сварка трением с перемешиванием), а также для понимания трехмерного анализа границ раздела методом комбинации послойного травления материала с помощью фокусированного ионного пучка и исследования поверхности каждого слоя методом ДОЭ с последующей трехмерной реконструкцией набора двумерных данных ДОЭ. Перевод на русский язык второго оригинального издания книги МЕТОД ДИФРАКЦИИ ОТРАЖЕННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ В МАТЕРИАЛОВЕДЕНИИ является одной из первых исчерпывающих коллективных монографий в этой области. Книга станет полезным настольным справочником для многих начинающих и практикующих специалистов в области электронной микроскопии, рентгеновского микроанализа и микротекстурного анализа материалов.

Магазин: book24 RU

ISBN: 978-5-94836-385-1
Объем: 560
Серия: Мир физики и техники
Автор: Шварц А., Кумар М., Адамс Б., Филд Д. (ред.)
Издательство: Техносфера
Год: 2014
Код номенклатуры: ORS934507986968885
Электронная: Нет
noСкидка: no