Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении (МФиТ) Шварц Техносфера 9785948363851

Цена: 1569 руб.

Категория: Наука. Техника. IT, Физико-математические науки, Физика. Механика. Научные издания
Производитель: Техносфера
Артикул: 9785948363851
Модель:

Книга содержит материалы, полезные как для общего понимания принципа ДОЭ-анализа, истории его создания и развития, так и практическую информацию по исследованию процессов в материалах при сильных пластических деформациях (равноканальное угловое прессование (РКУП), сварка трением с перемешиванием), а также для понимания трехмерного анализа границ раздела методом комбинации послойного травления материала с помощью фокусированного ионного пучка и исследования поверхности каждого слоя методом ДОЭ с последующей трехмерной реконструкцией набора двумерных данных ДОЭ. Перевод на русский язык второго оригинального издания книги МЕТОД ДИФРАКЦИИ ОТРАЖЕННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ В МАТЕРИАЛОВЕДЕНИИ является одной из первых исчерпывающих коллективных монографий в этой области. Книга станет полезным настольным справочником для многих начинающих и практикующих специалистов в области электронной микроскопии, рентгеновского микроанализа и микротекстурного анализа материалов.

Магазин: Читай-город

ISBN: 9785948363851
Объем: 0
Издательство: Техносфера
Год: 2018
Возрастное ограничение: 12
Вес: 0.849