Дифракционный структурный анализ Учебное пособие для СПО Юрайт 978 5 534 11822 3

Цена: 1519 руб.

Категория: Научно-популярная литература, Физические науки
Производитель: Юрайт
Артикул: 978-5-534-11822-3
Модель:

В пособии рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. В каждую главу включены примеры решения типовых задач по изучаемой теме. В конце каждой главы приведены контрольные вопросы и задания, задачи для самостоятельной работы, а также рекомендуемая литература. В конце пособия помещен ряд приложений, в которых приведены сведения, необходимые для успешного овладения изучаемой дисциплиной. .Соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта среднего профессионального образования и профессиональным требованиям. .Для студентов среднего профессионального образования.

Магазин: Буквоед

ISBN: 978-5-534-11822-3
Объем: 272
Серия: Профессиональное образование
Автор: Суворов Э.
Издательство: Юрайт
Год: 2019
Код номенклатуры: ORS700572086349352
Электронная: Нет
noСкидка: no