Функциональная устойчивость сверхбольших интегральных схем Критерий качества и надежности Политехника 978 5 7325 1115 4

В монографии рассмотрена проблема оценки качества сверхбольших интегральных схем (СБИС). Прогресс в их изготовлении не обеспечен методологией оценки результатов испытаний на надёжность как свойства высокого качества. Для решения данной проблемы вводится понятие «электронного функционала» и предлагается учитывать показатель его функциональной устойчивости, который определяет вероятность динамического явления, а именно сбоя выходных сигналов СБИС. Критически рассматривается возможность ускорения тепловых испытаний на надёжность компонентов электронной техники, включая лимит адекватности термодинамической модели старения Аррениуса для дискретных компонентов, а также её ничтожную достоверность в случае оценки надёжности СБИС по функциональному критерию. Для прогноза ресурса СБИС предложена .линейная регрессионная модель. .Книга рассчитана на научных работников в области разработок СБИС, проектировщиков и испытателей электронной компонентной базы и аппаратуры, аспирантов и студентов по данной специализации, а также может заинтересовать широкий круг соответствующих специалистов в других областях техники. .

Магазин: book24 RU

ISBN: 978-5-7325-1115-4
Объем: 172
Автор: Куликов И.
Издательство: Политехника
Год: 2017
Код номенклатуры: ORS735282635004927
Электронная: Нет
noСкидка: no