![Крупное изображение Фундаментальные основы анализа нанопленок Научный мир 978 5 91522 225 9 Фундаментальные основы анализа нанопленок Научный мир 978 5 91522 225 9 Книга](/image/15870/185721324_0.jpg)
Фундаментальные основы анализа нанопленок Научный мир 978 5 91522 225 9 Книга
Цена: 889 руб.
Категория: Научно-популярная литература, Физические науки
Производитель: Научный мир
Артикул: 978-5-91522-225-9
Модель:
Узнать подробности предложения
Категория: Научно-популярная литература, Физические науки
Производитель: Научный мир
Артикул: 978-5-91522-225-9
Модель:
Книга посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Появление и развитие таких аналитических методик, основанных на явлениях взаимодействия частиц и излучения с веществом, обусловлено, прежде всего, ростом технологических потребностей. Ионная имплантация, электронные пучки и лазеры используются также и для модификации состава и структуры материалов. Осаждение потоков частиц, получаемых с помощью различных источников, позволяет получать пленочные материалы. Так, эпитаксиальные слои могут быть получены с использованием молекулярных пучков, а также с помощью физического и химического газофазного осаждения. Методики, основанные на изучении взаимодействия с частицами, позволяют, например, обеспечить контролируемые условия окислительных и каталитических реакций. Ключом к успешному использованию данных методик является широкая доступность аналитических технологий, чувствительных к составу и структуре твердых тел на нанометровом масштабе. Книга предназначена для специалистов в области материаловедения и инженеров, интересующихся использованием различных видов спектроскопии и/или спектрометрии. Для людей, занимающихся анализом материалов, которым необходима информация о технике, имеющейся за пределами и лабораторий
и особенно для студентов старших курсов и выпускников, собирающихся использовать это новое поколение аналитических методов в своей научной работе.
Магазин: book24 RU
ISBN: 978-5-91522-225-9
Объем: 392
Серия: Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники
Автор: Алфорд Т., Фельдман Л., Майер Д.
Издательство: Научный мир
Год: 2012
Код номенклатуры: ORS781208650152924
Электронная: Нет
noСкидка: no
![Фундаментальные основы анализа нанопленок Научный мир 978 5 91522 225 9 Книга Фундаментальные основы анализа нанопленок Научный мир 978 5 91522 225 9](/image/15870/185721324_1.jpg)
![Фундаментальные основы анализа нанопленок Научный мир 978 5 91522 225 9 Книга Фундаментальные основы анализа нанопленок Научный мир 978 5 91522 225 9](/image/15870/185721324_2.jpg)
![Фундаментальные основы анализа нанопленок Научный мир 978 5 91522 225 9 Книга Фундаментальные основы анализа нанопленок Научный мир 978 5 91522 225 9](/image/15870/185721324_3.jpg)
![Фундаментальные основы анализа нанопленок Научный мир 978 5 91522 225 9 Книга Фундаментальные основы анализа нанопленок Научный мир 978 5 91522 225 9](/image/15870/185721324_4.jpg)
![Фундаментальные основы анализа нанопленок Научный мир 978 5 91522 225 9 Книга Фундаментальные основы анализа нанопленок Научный мир 978 5 91522 225 9](/image/15870/185721324_5.jpg)
![](/img/ico/coupon.png)
Скидка 15%
Дата окончания: 30 июня
Скидка 15%
Дата окончания: 30 июня
Яркая классика
Дата окончания: 30 июня
![](/img/ico/chat.png)
![](/img/ico/goods.png)